Blacklight

Bases et techniques avancées en traitement du signal : du capteur à la mesure

Auteur :
Nayman Patrick
Publication :
Paris : Ellipses, DL 2017
Description :
Broché, 1 vol. (666 p.), ill., couv. ill. : 24 cm
Collection :
Formations & Techniques
Collection Formations & techniques
Note :
Bibliogr. p. [661]-662. Notes bibliogr. Index
Résumé :
Cet ouvrage est un ensemble de traitement du signal et d'instrumentation basé sur l'expérience de l'auteur dans le domaine instrumental et l'enseignement. Cet ouvrage propose une vue globale du traitement du signal du capteur à la mesure et sera utile aussi bien à l'étudiant qu'au chercheur ou à l'ingénieur. Cet ouvrage traite les sujets suivants : les séries de Fourier, les transformées de Fourier, Laplace, Hilbert, en z ; les filtrages linéaire et de Kalman et les propriétés spectrales ; l'échantillonnage et le sur-échantillonnage ; la modulation et la détection synchrone ; les systèmes numériques et les ondelettes ; le bruit et l'optimisation des performances (système et composants) ; l'optimisation des détecteurs et la CEM ; la problématique des mesures temporelles et l'optimisation du temps mort ; les photomultiplicateurs et les CCD ; test des convertisseurs analogiques-numériques ; la prédiction et l'estimation spectrales [Source : 4e de couv.]
Cet ouvrage est un ensemble de traitement du signal et d'instrumentation basé sur l'expérience de l'auteur dans le domaine instrumental et l'enseignement. Cet ouvrage propose une vue globale du traitement du signal du capteur à la mesure et sera utile aussi bien à l'étudiant qu'au chercheur ou à l'ingénieur. Cet ouvrage traite les sujets suivants : les séries de Fourier, les transformées de Fourier, Laplace, Hilbert, en z ; les filtrages linéaire et de Kalman et les propriétés spectrales ; l'échantillonnage et le sur-échantillonnage ; la modulation et la détection synchrone ; les systèmes numériques et les ondelettes ; le bruit et l'optimisation des performances (système et composants) ; l'optimisation des détecteurs et la CEM ; la problématique des mesures temporelles et l'optimisation du temps mort ; les photomultiplicateurs et les CCD ; test des convertisseurs analogiques-numériques ; la prédiction et l'estimation spectrales. [Source : 4e de couv.]
ISBN :
978-2-340-01659-0
Langue :
français
Type de document :
Livre
Thèmes :
Traitement du signal

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